高精度XRF元素分析儀 返回列表頁

　　高精度XRF元素分析儀利用X射線激發樣品中的原子，使其發射出特征熒光X射線。每種元素都有其特定的熒光X射線能量，這些特征X射線被探測器接收后，通過數據分析即可確定樣品中各種元素的濃度。

　　1.激發源：儀器內部設有高能X射線管作為激發源，產生高能X射線，以激發樣品。

　　2.樣品分析：樣品被放置在樣品室內，X射線照射樣品并引發元素的熒光輻射。

　　3.信號探測：探測器捕捉到樣品發射出的熒光X射線，并將其轉換為電信號。

　　4.數據處理：通過專業的軟件對信號進行分析，生成樣品中各元素的含量報告。

　　1.高精度與高靈敏度：高精度XRF元素分析儀采用高分辨率探測器，能夠檢測到低濃度的元素，滿足應用需求如痕量分析。

　　2.無損分析：相較于其他分析方法，XRF分析過程對樣品不會造成損害，能夠用于貴重材料和珍貴文物的檢測。

　　3.快速分析：儀器具備快速響應特性，分析過程通常在幾分鐘以內，可以顯著提升工作效率。

　　4.廣泛適用性：該儀器可以分析金屬、合金、礦石、陶瓷、塑料、涂料等多種材料，適用范圍廣。

　　5.用戶友好界面：現代XRF儀器配備直觀的操作界面，用戶易于上手，降低了操作難度。

測試時間 30秒-1200秒

測量范圍   AI-U

數據存儲及輸出內部存儲和U盤，USB和WiFi輸出

網絡連接方式   有限網絡或無線WiFi

工作溫度    -5 °C~50 °C

工作濕度    ≤85%

重量           小于9Kg

尺寸          30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH