ACTIVA-M 新型等離子體發射光譜儀

產品簡介 ACTIVA-M新型等離子體發射光譜儀儀器簡介：ACTIVA–M 是基于“A platform for the future TM"（未來平臺）設計理念，使用高效率背照式 CCD 為檢測器的 ICP–AES 光譜儀。它保留了 HORIBA Jobin Yvon 光譜儀的一貫優勢，又引入了先進的 CCD（電荷耦合元件）技術，從而提高了儀器的質量和靈活性。 詳情介紹 ACTIVA-M 新型等離子體發射光譜儀 儀器簡介： ACTIVA–M 是基于“A platform for the future TM”（未來平臺）設計理念，使用高效率背照式 CCD 為檢測器的 ICP–AES 光譜儀。它保留了 HORIBA Jobin Yvon 光譜儀的一貫優勢，又引入了先進的 CCD（電荷耦合元件）技術，從而提高了儀器的質量和靈活性。 ACTIVA–M 對 ICP 分析工作者提供了一個*不同的 ICP 分析概念, 不同于時下的其他 CCD ICP, 多譜線分析需由人為判斷是否有光譜干擾及zui終人為選擇譜線及確認分析結果, ACTIVA-M 提供了一個全自動化對譜線選擇及光譜干擾的判斷, 加上完整統計上的校正曲線自動判斷, 確保了zui后分析結果的可靠性. 本機使用超過 50,000 條 HJY 專屬的ICP 譜線資料庫 (S3-base, Single element Spectra, Spectroscopic data) 為分析譜線基準, 利用專屬的 IMAGE 全譜定性半定量系統, 無需任何標準溶液, 對未知樣品進行快速半定量分析, 獲得各元素的濃度范圍。將基體元素濃度及欲分析元素濃度輸入至 MASTER 軟件后, 不需進行任何上機分析或 spectrum profiling, 即可快速由軟件多譜線視窗中看到所有譜線之光譜干擾及可采用的元素分析譜線, 并自動匯出建立完整的全定量分析方法。 經此全定量方法, 建立校正曲線, 并經由 CALSTAT 對此工作曲線進行統計學上的自動判斷, 以確保曲線的合理性并開始進行樣品分析。 然后經由 SOS (Statistical Outlier Survey) 自動對多譜線分析結果進行篩選, 以確保zui后分析結果的可靠性。 由于ACTIVA-M 擁有zui寬廣的光譜范圍及優異的恒定光學分辨率, 加上創新的“完整”多譜線分析觀念, 使本機適合所有研發及質管上各樣品種類的分析利器。 ACTIVA-M 新型等離子體發射光譜儀 技術參數： 波長范圍 : 120 – 800nm。 實際光學分辨率(實測譜線半峰寬) : ≤0.010nm (160-430nm), ≤0.018nm (430-800nm)。 光學系統 : 恒溫設計, 0.64米焦距, 采用背對背雙面4343/2400 刻線/毫米 離子刻蝕全息閃耀光柵, 低的散射光 (1×10-7), 僅使用一級光光譜分析。 檢測器 : 2048X512像素, 背照式CCD檢測器, 像素尺寸13.5x13.5 μm, -30℃下工作，在工作溫度下(-30℃) 無須吹掃高純度保護氣流, 滿阱容量100,000個電子, 1MHz頻率, 低讀出噪聲6 e- r.m.s., 暗電流小于0.025電子/象素/秒。 等離子體觀測方式 : 側向(徑向)關測, 炬管垂直放置。 發生器 : 固態式發生器, 頻率為40.68MHz, 頻率波動 ±1KHz, 功率 750W – 1550W, 功率波動 ±0.1%。 炬管 : 3mm 大口徑內管, 采用*可拆卸式外/中/內炬管設計。 進樣系統 : 恒溫, 旋流霧室配備玻璃霧化器 (標準配置), 可以直接進樣高達30% 的高鹽溶液。 全譜系統 : 可以采集全部光譜信息，進行定性、半定量和定量分析, 并可作回溯性分析。 氣體消耗量 : 低的總氣體消耗(氬氣)量 ≤14L/分鐘。 短期穩定性 : 連續測量11次，RSD≤1%。 長期穩定性 : 每10分鐘測量一次，連續測量4小時，RSD≤2%。 ACTIVA-M 主要特點： 新型全自動Activa-M電感耦合等離子體原子發射光譜儀, 采用專為科研性光譜學而設計的高性能傳感器, 為一超低噪聲CCD固態檢測器ICP光譜儀, 涵蓋zui寬廣的光譜分析范圍 (120 – 800nm), 適合于各類型分析應用; 并包括Cl, Br, I 等真空紫外元素波長的分析, 對正常波長范圍內 (160 – 800nm) 的元素光譜干擾問題提供了一個全新波段免除光譜干擾的可能性。 高分辨率模式在120-430nm光區的光譜分辨率<10pm。 高速模式在120-800nm光區的光譜分辨率<18pm。 檢測器具*抗溢出功能, 好的實際動態范圍，達107，至少有5個數量級的線性響應范圍。采用AIMO (Advanced Inverted Mode Operation), 低暗電流，具有大的阱容量 (象素電荷儲存量)。 采用高技術電子線路，內含Rapid ChipTM組件。 采用好的垂直炬管徑向觀測與高亮度，高性能光學系統相結合，可以徑向觀測等離子體的整個正常分析區（不同類型的樣品分析不受限制）。 等離子體室空間大，炬管、霧室裝置為卡式結構、拆卸、安裝便捷，無需任何調節。寬闊的樣品導入區，具有便利可向下折疊的抗腐蝕樣品托盤。 Smart Hood（智能化排風裝置）保證等離子體區的排風安全、方便，并降低了安裝成本。 的S3-base (Single-element Spectra, Spectroscopic data) ICP譜 線數 據庫有助于在120-800nm范圍內選用*ICP譜線。 完整的全自動多譜線及可靠性分析概念, 使用功能*的多譜線分析工具 IMAGE (full spectrum acquisition tool) & MASTER (Multi-line Analysis, Selection Tool for Enhanced Reliability) 加上統計學上的分析工具CALSTAT & SOS (Statistical Outlier Survey), 確保了zui后分析結果的可靠性。 功能*的ACTIVAnalyst 軟件擴展了以CCD為檢測器的AnalystTM ICP 軟件的功能, 具備多種選購件及供儀器升級用的部件。 本系統可于一個光譜視窗內同時測量多波長及其背景，提供多元素的高效率分析。將相鄰的光譜視窗加合起來，系統即可覆蓋100% 的光譜范圍。 上一篇： Flex-CLUE靈活型CL光譜儀 下一篇： SWIFT XS拉曼光譜儀